任鎖效應(yīng)

發(fā)布時(shí)間：2025-10-30 | 來源：互聯(lián)網(wǎng)轉(zhuǎn)載和整理

應(yīng)該是閉鎖效應(yīng)。

閉鎖效應(yīng)是某些器件或集成電路中發(fā)生像晶閘管那樣的柵極能夠控制導(dǎo)通、但是不能控制關(guān)斷的一種現(xiàn)象，是造成IC失效的一種重要原因。

晶閘管的結(jié)構(gòu)是p-n-p-n，它可看成是由兩個(gè)BJT共用一個(gè)基區(qū)而組合起來的一種器件。它的柵極（控制極）電壓可以觸發(fā)晶閘管導(dǎo)通，但是柵極電壓不能使晶閘管關(guān)斷。對于器件 或者集成電路而言，如果其中存在有p-n-p-n這種晶閘管結(jié)構(gòu)，只要有某些不定因素的觸發(fā), 使得p-n-p-n結(jié)構(gòu)出現(xiàn)正向?qū)〞r(shí)，即產(chǎn)生很大的電流，并且再也不能自己關(guān)斷，而這時(shí)若電源能提供足夠大的電流，從而就將引起器件失效。這種現(xiàn)象就稱為閉鎖效應(yīng)。