任鎖效應(yīng)

2025-10-30

應(yīng)該是閉鎖效應(yīng)。 閉鎖效應(yīng)是某些器件或集成電路中發(fā)生像晶閘管那樣的柵極能夠控制導(dǎo)通、但是不能控制關(guān)斷的一種現(xiàn)象，是造成IC失效的一種重要原因。 晶閘管的結(jié)構(gòu)是p-n-p-n，它可看成是由兩個(gè)BJT共用一個(gè)基區(qū)而組合起來的一種器件。它的柵極（控制極）電壓可以觸發(fā)晶閘管導(dǎo)通，但是柵極電壓不能使晶閘管關(guān)斷。對于器件 或者集成電路而言，如果其中存在有p-n-p-n這種晶閘管結(jié)構(gòu)...