如何手機(jī)性能測(cè)試

發(fā)布時(shí)間：2026-01-09 | 來(lái)源：互聯(lián)網(wǎng)轉(zhuǎn)載和整理

1、手機(jī)性能測(cè)試方法：首先打開(kāi)CPU-Z。

2、點(diǎn)擊“SOC”可查看處理器性能。

3、點(diǎn)擊“device”查看設(shè)備參數(shù)。

4、點(diǎn)擊“system”查看系統(tǒng)信息。

5、點(diǎn)擊“battery”查看電池性能。

6、手機(jī)測(cè)試是一個(gè)很大的題目，涉及到硬件測(cè)試和軟件測(cè)試，還有結(jié)構(gòu)的測(cè)試，比如抗壓，抗摔，抗疲勞，抗低溫高溫等，結(jié)構(gòu)上的設(shè)計(jì)不合理，會(huì)造成壓力集中，使得本身外殼變形，對(duì)于翻蓋手機(jī)，蓋子失效，還有其他嚴(yán)重問(wèn)題。硬件測(cè)試一般都有嚴(yán)格的物理電氣指標(biāo)，也有專(zhuān)門(mén)的儀器。